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增益校準曲線

同時顯示A掃描和S掃描的視圖

EPOCH 1000i儀器具有同時顯示A掃描和S掃描的標準視圖。這個視圖顯示來自處于用戶定義的起始角度和終止角度之間的每個角度的A掃描數據。可以選擇被統稱為聚焦法則的某個單個角度，將這個角度的A掃描實時顯示在屏幕上。這樣用戶利用相控陣成像功能，可以同時在多個角度下探測并定性潛在的缺陷。

校準全部聚焦法則

EPOCH 1000i儀器在相控陣模式下校準增益和零位偏移時，只需一步操作，即可對全部聚焦法則進行校準。這種自動校準操作可以在所有成像的角度（聚焦法則）下捕獲單個反射體的峰值波幅或聲時/距離測量值。然后，儀器使用捕獲的波幅或聲時/距離數據對每個聚焦法則的增益和零位偏移進行調整，以為每個A掃描提供經過校準的測量值。

相控陣DAC編輯模式

用于全部聚焦法則的標準DAC/TVG

EPOCH 1000i儀器的標準配置包含用于全部聚焦法則的DAC/TVG。操作人員可以基于已知反射體，一次性為所有需要定義的角度或聚焦法則采集DAC曲線或創建TVG設置。隨后，用戶可以對在設置過程中采集到的單個點進行編輯，以獲得準確的DAC曲線或TVG設置。設置完成以后，用戶即可使用S掃描圖像探測出各個聚焦法則下的潛在缺陷。

相控陣DGS/AVG模式

標準相控陣DGS/AVG

DGS/AVG缺陷定量技術是相控陣模式中的一個標準選項。這個功能使用探頭ID識別碼與楔塊信息，建立DGS/AVG曲線特性，并將曲線應用在0°、45°、60°和70°聚焦法則上。用戶使用標準EPOCH儀器的機載DGS/AVG菜單和經過修正的增益校準工具，可以快速方便地進行設置。這個選項還提供插值圖像TVG，用于在特定聲程范圍內進行便捷的檢測操作。

帶有焊縫覆蓋的相控陣S掃描

焊縫覆蓋

焊縫覆蓋功能是EPOCH 1000i儀器的標準配置，為用戶在S掃描顯示中提供了一個焊縫縱剖面圖的視覺參考信息。這個縱剖面圖可顯示缺陷指示相對于焊縫幾何形狀的相對位置。

用戶使用焊縫中線光標，可以手動定位焊縫覆蓋圖在S掃描中的位置。焊縫覆蓋功能不僅加強了在檢測過程中探出、定性、定量工件中缺陷的能力，而且提高了缺陷檢測報告的質量。

多角度相控陣模式

EPOCH 1000i的多角度功能

EPOCH 1000i儀器的相控陣模式添加了一個名為"多角度"的標準功能。操作人員使用這個功能可指定掃查扇區范圍內的任何3個角度或聚焦法則，作為"可見的"聚焦法則。A掃描窗口中會顯示疊加在一起的來自3個指定角度的A掃描圖像。這樣，操作人員可以同時查看全部3個A掃描圖像。為使用方便，每個單獨的角度都以不同的顏**分。對于需要使用常規定量方法在45°、60°和70°角度處進行評價的檢測人員來說，這無疑是一個非常**的功能！

帶有真實深度閘門的A掃描和S掃描

真實深度閘門

在真實深度模式下，可以在S掃描中顯示多個測量閘門，這樣就可以在貫穿工件、間距相等的深度位置上采集測量讀數，而無需考慮所選擇的聚焦法則。這個功能在使用編碼C掃描選項時尤其有用，因為用戶利用這個功能，可以在一個單一閘門位置上采集到一個完整跳躍距離的信息。

真實深度閘門是只會出現在S掃描中的幾條水平線。A掃描視圖依然保持聲程模式。

45°聚焦法則的AWS"D"值焊縫定級顯示

AWS焊縫定級

EPOCH 1000i儀器的標準配置包含一個AWS D1.1/D1.5焊縫定級計算器。如果儀器使用符合AWS定級的Olympus相控陣探頭，則可利用成像功能進行缺陷探測，同時利用常規A掃描技術定量在45°、60°和70°處的缺陷。操作人員還可在屏幕上觀察任何所選A掃描（聚焦法則）的焊縫定級D值。

這個可選購軟件功能將EPOCH 1000i儀器的配置提高到了16:64晶片，既可以顯示線性掃描，也可以顯示編碼或時基C掃描。使用多含有64個晶片，大活動孔徑為16個晶片的探頭，可以采集線性掃描圖。

沿單線掃查軸進行已編好程序的線性掃查或扇形掃查，可以采集到圖像數據；這些圖像數據的積累可以創建C掃描圖像。探頭沿掃查軸移動時需要有一個編碼器跟蹤探頭的移動。這個編碼C掃描圖像收集來自兩個獨立測量閘門的渡越時間（TOF）數據和波幅數據。在C掃描圖像的采集過程中會實時顯示A掃描。C掃描中所有點的壓縮A掃描圖像都會被存儲起來，并在顯示C掃描中某個位置的S掃描或線性掃描的同時顯示這個位置的A掃描圖像，用于基本的圖像分析。采集到掃描圖像以后，可以對數據源和類型進行動態調節，可使用光標進行基本掃查定量操作。這個軟件功能還具有一些附加彩色調色板，用于相控陣掃描圖像。這些彩色調色板分別具有不同的顏色標度，可用于各種應用，還可被修改以滿足用戶的特殊需求。

請觀看有關編碼C掃描特性的視頻。